奥林巴斯测厚仪M116-RM M116-SM接触式探头

产品特点：奥林巴斯测厚仪M116-RM M116-SM接触式探头提供完整的传感器，电缆，耦合剂，校准试块，及配件的选择，以满足各种超声波精密厚度河道测应用.

更新时间：2024-07-24

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奥林巴斯测厚仪M116-RM M116-SM接触式探头

奥林巴斯Olympus M116-RM、M116-SM接触式探头提供完整的传感器，电缆，耦合剂，校准试块，及配件的选择，以满足各种超声波精密厚度河道测应用

经常使用的45MG系列和38DL PLUS系列测厚仪，以及其他市售测厚仪，探伤仪和超声波仪器的Panametrics-NDT的Microscan传感器。
Microscan探头部分的连接器：
RM = 直角的Microdot®
SM = 笔直的Microdot
RB = 直角 BNC
SB = 笔直 BNC
SU = 笔直 UHF
选择一个传感器时，请检查下面的图表或咨询规附带的使用说明书中的传感器频率范围。
奥林巴斯Olympus NDT接触式探头
一个的Panametrics-NDT的Microscan接触传感器的优势之一是它的多功能性;一个单一的传感器可以覆盖广泛，在许多工程材料的厚度范围。接触传感器的构造与的WC-5 wearplate更大的耐用性和更长的使用寿命。

主要特性

可与双晶探头和单晶探头兼容
宽泛的厚度测量范围：0.08毫米到635毫米，具体可测厚度根据材料和所选探头而定
使用双晶探头进行腐蚀测厚操作
穿透涂层（THRU-COAT）和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料
内部氧化层/沉积物软件选项
对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米
在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量

多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量，最多可同时测量4层
高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料
厚度、声速和渡越时间的测量
差分模式和缩减率模式
时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可回顾的读数
带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态增益技术
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能
设计符合EN15317标准

奥林巴斯Olympus M116-RM、M116-SM接触式探头

频率(MHz)	英寸	直径mm	型号	传感器部分代码
0.5	1	25	M101-SB	U8400017
1	1	25	M102-SB	U8400018
1	0.5	13	M103-SB	U8400020
2.25	0.5	13	M106-RM, M106-SM	U8400023, U8400025
2.25	0.5	13	M1036†	U8400019
5	0.5	13	M109-RM, M109-SM	U8400027, U8400028
5	0.25	6	M110-RM, M110-SM, M110H-RM**	U8400030, U8400031, U8400029
10	0.25	6	M112-RM, M112-SM, M112H-RM**	U8400034, U8400035, U8400033
10	0.125	3	M1016	U8400015
20	0.125	3	M116-RM, M116-SM。M116H-RM*	U8400038, U8400039.U8400037
20	0.125	3	M208-RM, M208-SM	U8400036，U8400035

奥林巴斯测厚仪M116-RM M116-SM接触式探头

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