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产品简介
美国D*S AE1/RD1半球发射率测量仪辐射计测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。
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美国D*S AE1/RD1半球发射率测量仪辐射计
品牌：Devices and Services，简称 D&S
AE1/RD1半球发射率测量仪是用于测量发射率的专用仪器。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法 第三部分：发射率（国家军标）》等国家发射率测量标准。
低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。
产品特点：
高重复性：测量重复性高达±0.01，保证每次测量结果的可靠性。
操作简单：采用电加热设计，无需对样品额外加热或测温操作。
快速测量：仅需预热约30分钟，每1.5分钟即可测量一次发射率，单次测量耗时仅10 s。
高性价比：适合多种预算范围的实验需求，维护成本低。
重复性： ± 0.01
操作简单：探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。
快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。
价格实惠
简要概述
AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。
把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。
AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头，能测量样品的最小直径为1.0英寸（2.54cm）。还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径圆柱形面样品的测量，可以测量平行放置的多个样品。
发射率通过两个步骤获取：
1、把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；
2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。
美国D*S AE1/RD1半球发射率测量仪辐射计
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